16Sepساختار لایه آرایه منفذی، روش پیش پوشش، روش تشکیل فیلم و دستگاههای مرتبط و عن...عناصر اجرایی فنی: 3. تجسمهای فناوری حاضر یک ساختار لایه آرایه سوراخ، یک روش پیشپوشش، یک روش تشکیل فیلم و یک دستگاه مرتبط را برای حل مشکل ناپایداری پ
مشاهده بیشتر
16Sepساختار لایه آرایه سوراخ، روش پیش پوشش، روش تشکیل فیلم، و دستگاه ها و فرآیندها...1. فن آوری حاضر متعلق به حوزه فنی تشخیص بیولوژیکی است و به ویژه به ساختار لایه آرایه سوراخ، روش پیش پوشش، روش تشکیل فیلم و دستگاه مرتبط مربوط می شود.
مشاهده بیشتر
16Sepیک سیستم نانوکامپوزیت و روشی برای تحقیق در مورد نانومواد، عناصر تحقق فنیعناصر اجرایی فنی: 5. مشکل فنی که باید توسط اختراع حاضر حل شود عبارت است از: ارائه یک سیستم یکپارچه نانومتری و روشی برای تحقیق در مورد نانومواد که بتوا
مشاهده بیشتر
16Sepیک سیستم و روش نانوکامپوزیت برای تحقیق در مورد نانومواد1. اختراع حاضر مربوط به حوزه تجهیزات تحقیقاتی علمی در سطح تحقیقات در علوم نانو و به ویژه در زمینه یک سیستم یکپارچه در مقیاس نانو و روشی برای تحقیق در
مشاهده بیشتر
16Sepساختار بسته بندی، بستر، روش بسته بندی و عناصر اجرای فناوری فرآیندعناصر اجرایی فنی: 3. فناوری حاضر ساختار بسته بندی، بستر و روش بسته بندی را فراهم می کند تا استرس بسته بندی ایجاد شده در فرآیند اتصال دستگاه mems را کا
مشاهده بیشتر
16Sepساختار بسته بندی، بستر، روش و فرآیند بسته بندی1. فن آوری حاضر به زمینه بسته بندی تراشه ها و به ویژه ساختارهای بسته بندی، بسترها و روش های بسته بندی مربوط می شود. تکنیک پیش زمینه: 2. بسته بندی در س
مشاهده بیشتر
16Sepیک میکرو صفحه داغ MEMS بر اساس فیلم دی الکتریک کامپوزیت جانبی و روش ساخت آن و...عناصر اجرایی فنی: 4. با توجه به مشکلات فنی فوق، اختراع حاضر یک صفحه میکرو داغ mems بر اساس یک فیلم دی الکتریک کامپوزیت عرضی و روش ساخت آن ارائه می کند
مشاهده بیشتر
16Sepنوعی صفحه داغ میکرو MEMS بر اساس فیلم دی الکتریک کامپوزیت جانبی و روش ساخت آننوعی صفحه میکرو داغ MEMS بر اساس فیلم دی الکتریک کامپوزیت عرضی و زمینه فنی روش ساخت آن 1. اختراع حاضر مربوط به زمینه فنی مم ها به ویژه صفحه میکرو داغ
مشاهده بیشتر
16Sepعناصر تحقق فنی روش انتشار پس از CMOS برای ساختار حساس به پرتو متقاطع برای هید...عناصر اجرایی فنی: 5. به منظور حل مشکل تکمیل رهاسازی سازه با فرض سازگاری با cmos با استفاده از فرآیند mems، اختراع حاضر روش رهاسازی post-cmos را برای س
مشاهده بیشتر
16Sepعناصر پیاده سازی فنی عناصر روش رهاسازی پس از CMOS برای سازه های حساس به تیرها...عناصر اجرایی فنی: 5. به منظور حل مشکل تکمیل رهاسازی سازه با فرض سازگاری با cmos با استفاده از فرآیند mems، اختراع حاضر روش رهاسازی post-cmos را برای س
مشاهده بیشتر
16Sepساختار حساس به پرتو متقاطع روش پس از انتشار CMOS برای هیدروفون بردار MEMSروش انتشار CMOS پس از ساختار حساس پرتو متقاطع برای زمینه فنی هیدروفون بردار mems 1. اختراع حاضر مربوط به زمینه نیمه هادی ها، به ویژه حفاظت از دیواره ج
مشاهده بیشتر
16Sepروش های ساخت سیستم برای عملکرد دستگاه های میکروسیال1. فن آوری حاضر به طور کلی مربوط به سیستم هایی است که از دستگاه های میکروسیال استفاده می کنند. فن آوری حاضر، از جمله، سیستم هایی را برای عملکرد دستگاه
مشاهده بیشتر












